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检测/分选设备

X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪

时间:2021.10.18    浏览809次
X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪

X-Strata920工作特点

Ø测量元素范围:钛Ti22---铀U92

Ø测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;

Ø测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;

Ø快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;

Ø可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;

Ø进行贵金属检测,如Au karat评价;

Ø材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

Ø强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;

Ø结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;

Ø测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;

Ø激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦

Ø拥有NIST认证的标准片;

Ø提供全球服务及技术支持。


X-Strata920先进的系统安全性


Ø简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权

Ø主管人员可进行系统维护

Ø系统自动生成操作员的使用记录

Ø自动锁定功能防止未授权的操作

ØZ轴保护传感器

Ø安全防射线光闸

Ø样品室门开闭传感器

ØX射线锁

ØX射线警示灯

Ø紧急停止按钮

Ø前面板安全钮和后面板安全锁


X-Strata920的配置

ØX-Strata920测试主机

Ø联想ThinkCentre计算机(原IBM)------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包

Ø17吋戴尔Dell液晶显示器

Ø佳能Canon彩色喷墨打印机

Ø标准片组件(满足镀层需要)